چکیده فارسی :

روش‌های خود تست کننده توکار (BIST) الگوسازی تست را انجام می‌دهند و به عملیات‌های تأییدی بر روی تراشه پاسخ می‌دهند. در BIST محاسباتی، ماژول‌هایی که معمولاً در مسیر داده‌ها وجود دارند (انباشتگرها، شمارشگرها و غیره) جهت اجرای عملیات‌های فوق‌الذکر بکار برده می‌شوند. به منظور شناسایی خرابی‌هایی که در مدارات جریان CMOS رخ می‌دهد، تست‌های دو الگویی مورد نیاز می‌باشد. بعلاوه، تست تأخیر که معمولاً اطمینان یافتن از عملیات مدار زمانی با سرعت زمان‌سنجی استفاده می‌شود نیاز به تست‌های دو الگویی دارد. در این مقاله، مولد تست دو الگویی جدیدی برای BIST محاسباتی ارائه می‌شود. اجرای سخت‌افزاری آن بطور مطلوب با روش‌های دیگری که در ادبیات ارائه شده‌اند مقایسه می‌شود. کاربرد طرح پیشنهادی برای تست دو الگویی ماژول‌های ROM آشکار می‌سازد که تست ROMهایی با اندازه کوچک تا متوسط در زمانی منطقی و با بالاسری سخت‌افزاری ناچیزکامل می‌شود.

چکیده انگلیسی :

Built-In Self Test (BIST) techniques perform test pattern generation and response verification operations on-chip. In Arithmetic BIST, modules that commonly exist in datapaths (accumulators, counters, etc.) are utilized to perform the above-mentioned operations. In order to detect faults that occur into current CMOS circuits, two-pattern tests are required. Furthermore, delay testing, commonly used to assure correct temporal circuit operation at clock speed requires two-pattern tests. In this paper a novel two-pattern test generator for Arithmetic BIST is presented. Its hardware implementation compares favorably to the techniques that have been presented in the literature. Application of the proposed scheme for the two-pattern testing of ROM modules revealed that the testing of small-to-medium size ROMs is completed within reasonable time and with negligible hardware overhead.